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晶圆边缘轮廓仪 LC-WEP200

芯片国产久久为功， 创新之路道阻且长， 硅片只是这慢慢长路的第一道关 。本产品可测可测量硅片的Notch、Edge、晶圆厚度、晶圆直径、Flat长度、Bevel宽度。
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